도금두께측정기, 유해물질분석기 - iEDX200AT
X-선 발생기 : W Target, 50kVp 1mA
검출기 : SDD (Si4licon Drift Detector)
분해능 : 125eV FWHM at Mn Kα
X-선 조사범위
- 0.05, 0.1, 0.2, 0.3, 0.5, 1mm Auto Change
- Capillary Focusing Optics : 30㎛
측정 범위 : Al(13) ~ U(92)
시료 형태 : Solid / Liquid / Powder, Multi-Layer, Wide PCB
시료 챔버 크기 : 500 × 470 × 200 mm(W × D × H)
주요특징
- RoHS / WEEE / ELV 적부성 검사
- Halogen Free 적부성 검사
- 다층박막 두께 측정 (최대 5층)
- Solar Cell Layer, Lead Frame 분석
- 엑스선 광학계 적용
카메라 : 비율 40배
방사선 안전 차단 장치
- 자동 3중 차단 장치
- 안전설계승인 : NSSC1.30RG001.03
성적서 리포트 종류
- Excel, PDF파일 저장 / 출력
- 사용자 지정 양식
■ 도금두께측정기, 유해물질분석기 - iEDX200AT : 제품옵션
▶ X-Ray Source에서 발생된 X-Ray의 분산에 따른 X-Ray 강도 저하 및 측정면의 오차를 줄이기 위한 X-Ray를 집속시켜 주는 장치.
▶ 샘플에 조사되는 X-Ray의 분산으로 인한 X-Ray 강도와 측정면의 오차를 줄일 수 있음으로 샘플에 조사되는 X-Ray 강도를 증대 시킬 수 있으며 측정면의 정밀한 측정이 가능함.
■ 도금두께측정기, 유해물질분석기 - iEDX200AT : 응용분야
◆ 박막태양전지 CIGS(Solar Cell Layer) 도금 두께 측정
CIGS(Solar Cell Layer)란
CIGS 태양전지는 일반적인 유리를 기판으로 박 막-배면전극-광흡수층-버퍼층-앞면투명전극-반사방지막으로 이루어진 전극이다.
그 중 태양광을 흡수하는, 광흡수 층에 CIGS로 이루어진 것이 CIGS 태양전지이다.
CIGS는 화합물 반도체인 ( Cu(In,Ga)Se2 ) 로 이루어짐
◆ CIGS(Solar Cell Layer)측정값 비교
■ 도금두께측정기, 유해물질분석기 - iEDX200AT : 분석소프트웨어 SmartRay
◆ 도금 두께 측정 결과 보고서
▶ 다층두께 측정
▶ 간편한 도금층 정의 기능
▶ 편리한 파라미터 셋업
▶ 기초 상수법(FP), 검량선법, 흡수법 지원
▶ Layer별 포함 원소 함량을 정의
▶ PDF, EXCEL 저장 기능
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