휴대용 성분분석기 , 미술품 골동품 분석용 휴대용xrf

휴대용 성분분석기 , 미술품 골동품 분석용 휴대용xrf

휴대용 금속성분분석기

Handhelf XRF - Tracer Family

지질학과 보존 과학을 위한 최적의 표준 시스템

사용자 편의의 Handheld로 Benchtop과 실험실 제품의 품질과 유연성제공

NASA와 협력하여 진공 기술 개발

노트북 기반 프로그램 ,Live-time Spectrum Display 사용자에 최적화한 설계

나트륨, 마그네슘, 알루미늄, 실리콘, 황, 인, 염소와 같은 경원소의 검출

속도와 해상도를 향상시킨 XFlash SDD기술 적용

휴대용 금속성분분석기 Handhelf XRF - Tracer Family  제품분류

Tracer III-SD - 브르커 독점 최초 개발 XFlash사용, 해상도 145eV@100,000cps

Tracer IV-SD - 컴퓨터 제어, 다섯 개의 필터 내장, 다중 프로토콜 개발 용이하도록 광범위한 Coverage제공

Tracer III-V+ - 대학과 박물관에서 사용되는 수백 개의 스펙트럼 고유 및 교정

Tracer IV-GEO - 5개의 Filter Wheel, 높은 강도와 넓은 원소 범위 측정

휴대용 금속성분분석기 Handhelf XRF - Tracer Family  적용분야

예술품 및 보존 과학 연구용

 - 안료, 페인트, 원본 및 출처 확인, 토양분석등에 활용

 - 원소 분석에 매우 중요한 도구를 만들고 시료에 대한 충분한 정보를 확인

연구및 교육 : 실험실용 수준의 품질을 제공하여 교육활동

지질학 연구 : Tracer IV는 지질학 화학적 연구 조사를 위한 최적의 시스템, NASA의 진공기술로 주요 구성성분과 미량성분도 분석지원